广立微:公司扩展研发晶圆级可靠性测试设备 现已实现关键功能开发
2023-05-28 18:23:54
界面新闻
【资料图】
广立微近期在接受调研时表示,面向晶圆级可靠性测试领域,公司扩展研发了晶圆级可靠性测试(WLR)设备,现已实现关键功能开发,扩充了公司电性测试设备产品线。
(文章来源:界面新闻)